Тел.: +7 (4852) 32-05-24, 32-09-24
E-mail: [email protected]
Ярославль, пр. Ленина, 15
Навигация:ГлавнаяАналитическое оборудованиеЭлементный анализРентгенофлуоресцентный аналитический микроскоп XGT-7200

Рентгенофлуоресцентный аналитический микроскоп XGT-7200

Рентгенофлуоресцентный аналитический микроскоп XGT-7200

Артикул: HB-35

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

XGT-7200 представляет собой совершенно новое поколение рентгенофлуоресцентных микроскопов, обеспечивающих беспроблемное слияние оптического наблюдения и элементного анализа, коренным образом изменяющих мир микроанализа, утверждая аналитический XRF-микроскоп в качестве повседневного исследовательского инструмента для аналитической практики.


Особенности конструкции XGT-7200 гарантируют многосторонность и гибкость при проведении каждого измерения. Программный выбор типа рентгеновской трубки с диаметрами пятна от уникальной величины 10 мкм до 1,2 мм позволяет оптимизировать условия для всего диапазона микро- и макроизмерений. Точно так же система двойного вакуумированияпозволяет в течение секунд осуществить переключение между высокой чувствительностью полного вакуума и универсальным методом локализованного вакуума.

Уникальные преимущества XGT-7200 делают этот инновационный микро-XRF анализатор пригодным для самого широкого спектра приложений: электроника, анализ отработанных машинного масла и топлива, криминалистика, геология, минералогия, фармацевтика, музейное дело, металлургия, биология, медицина и археология. Гибкость прибора позволяет быстро переходить от макроанализа с широкой областью обзора к изучению микрообъекта с одновременным наблюдением рентгеновской флуоресценции и просвечивающего режима.

Несомненными преимуществами XGT-7200 являются:

  • Одноточечный и автоматизированный многоточечный анализ позволяют осуществлять высококачественное снятие спектров как одиночной точки, так и определенного пользователем набора точек по поверхности образца. Пики элементов автоматически локализуются и маркируются, может быть проведен количественный анализ вплоть до уровней ppm по методам фундаментальных параметров (FPM), FPM с одним стандартом и полномасштабной калибровкой по стандартным образцам. Также может быть выполнен расчет толщин для многослойных образцов нано- и микрометрового диапазона;
  • Программное обеспечение SmartMap записывает полные спектры EDXRF для каждой точки образца, допуская возможность ретроспективного анализа всего образца или выделенной области образца с одновременным качественным и количественным анализом. Изображение в проходящих рентгеновских лучах обеспечивает дополнительное понимание структуры образца, позволяя изучить особенности, невидимые глазу. ПО позволяет легко контролировать прибор, быстро просмотреть образец и выбрать область анализа, а также провести полный анализ;
  • Возможность создания изображения в проходящих рентгеновских лучах одновременно с рентгенофлуоресцентным изображением. Это может быть использовано для анализа внутренней структуры образца и выявления областей анализа, невидимых глазу. Сканирование осуществляется узким перпендикулярным лучом для получения четкого изображения в проходящих лучах даже для неплоских образцов;
  • Уникальный режим двойного ваккумирования – переключение в несколько секунд. В режиме полного вакуума для обеспечения чувствительности по легким элементам вакуумируется вся камера образцов. В режиме частичного вакуума образец находится при атмосферном давлении, а вакуум создается вокруг детектора и капиллярной оптики. Этот режим идеально подходит для анализа увлажненных образцов, таких, как биологические ткани и хрупкие археологические и музейные объекты;
  • Аккомодационная камера позволяет проводить анализ самого широко спектра образцов, от 10 мкм анализа на микроскопической приставке, до картографического анализа зоны 10 х 10 см;
  • Интуитивно понятное программное обеспечение позволяет легко контролировать прибор, быстро просмотреть образец и выбрать область анализа, а также провести полный анализ. Функционал программного обеспечения включает: автоматическую идентификацию пиков, количественные измерения, генерирование составного RGB изображения, анализ профиля по линии.                                                                                                                                                                                                                                                                                     
    Параметры Значения

    Определяемые элементы

    От Na до U

    Рентгеновская трубка

    Rh, 50 кВ, 1 мА

    Детектор рентгеновской флуоресценции

    Silicon Drift Detector (SDD), Пельтье охлаждение

    Детектор рентгеновского пропускания

    Сцинтиллятор NaI (Tl)

    Оптика

    Монокапиллярная, 10 мкм / 100 мкм, без фильтров

    Изображение

    Полноразмерное оптическое и коаксиальное увеличенное

    Размер столика образца, мм

    100 х 100

    Размер вакуумной камеры, мм

    300 х 300 х 80

    Количественный анализ

    Метод фундаментальных параметров
    Калибровочная кривая
    Многослойный анализ

    Картографические функции

    Изображение в проходящих рентгеновских лучах
    Карта распределения элементов
    Спектральная карта
    Анализ вдоль линии

    Габаритные размеры (ДхШхВ), мм

    950 х 680 х 760

Задать вопрос

Нажимая кнопку «Отправить», вы даете согласие на обработку своих персональных данных