Определение ширины запрещённой зоны полупроводника по фотоэмиссии
Артикул: ФКЛ-21 Цена: предоставляется по запросу |
МОДЕЛЬ ДЛЯ ЭКСПЛУАТАЦИИ С МОНОХРОМАТОРОМ МУМ-01 Учебная установка позволяет получить с помощью дифракционного монохроматора МУМ-01 либо спектрометра ПЭ-5300 профиль эмиссионной линии излучения полупроводникового лазера и светодиода. По полученным экспериментальным данным рассчитывается ширина запрещенной зоны эмиссионного участка полупроводника и светодиода. Конструктивно учебный модуль состоит из нескольких блоков, совмещённых в едином комплексе: монохроматора МУМ-01, стабилизированного блока питания для лазера и светодиодов и блока измерения интенсивности фотоэмиссии. Интенсивность излучения измеряется фотодатчиком, размещенным на выходной щели монохроматора, сигнал с которого подаётся на цифровой микроаперметр с вмонтированной измерительной схемой. Микроамперметр регистрирует фототок, который пропорционален интенсивности спектральной линии. ← Назад |
- Лабораторные стенды
- Учебные комплексы
- Статика
- Ядерная физика
- Учебные установки
- Аналитическое научное оборудование
- Типовой комплект оборудования по курсу "Механика"
- Типовой комплект демонстрационного оборудования по механике ФДМ
- Типовой комплект оборудования для лаборатории «Волновые процессы» ФПВ
- Лабораторные установки по курсу "Молекулярная физика"
- Комплекты лабораторного оборудования «Физика-Электричество и магнетизм»
- Типовой комплект демонстрационного оборудования по колебаниям и волнам ФДК
- Комплект лабораторного и демонстрационного оборудования по оптике РМС
- Типовой комплект оборудования по курсу "Оптика"
- Лабораторные установки по курсу "Ядерная физика"
- Демонстрационный комплекс группового пользования "Физика"
- Медицинская (биологическая) физика
- Квантовая физика
- Электричество и магнетизм
- Универсальный лабораторно-демонстрационный стенд «Физика»
- Другое