Навигация:Главная›Для ВУЗов, техникумов и ПУ›Оборудование PHYWE (Германия)›Физика›Физика твердого тела›Атомное разрешение поверхности графита с помощью СТМ (сканирующий туннельный микроскоп)
Атомное разрешение поверхности графита с помощью СТМ (сканирующий туннельный микроскоп)
Артикул: P2532000 Цена: предоставляется по запросу |
Принцип Приближение очень острого металлического наконечника к электропроводящему образцу при приложении электрического поля приводит к возникновению тока между наконечником и образцом без какого-либо механического контакта. Этот так называемый туннельный ток используется для исследования электронного рельефа на вспомогательном нанометровом масштабе поверхности свежеприготовленного графита (ВОПГ). При сканировании линии наконечника построчно по поверхности графита изображаются атомы и гексагональные структуры. Преимущества
Задание
Основные термины
Программное обеспечение входит в комплект поставки, компьютер необходимо приобрести дополнительно. ← Назад |