Рентгеновское изучение кубических кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шерера

Артикул: P2541405

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

Принцип

При облучении поликристаллических образцов рентгеновскими лучами возникает характерная дифракционная картина. Эти отражения Дебая-Шеррера фотографируются и затем оцениваются.

Задание

1. Необходимо сделать фотографии Дебая-Шеррера порошкообразных образцов хлорида натрия и хлорида цезия.
2. Кольца Дебая-Шеррера должны быть оценены и отнесены к соответствующим плоскостям решетки.
3. Необходимо определить константы решетки образцов.
4. Определить число атомов в элементарных ячейках каждого образца.

Основные термины

• Кристаллические решетки
• Кристаллические системы
• Реципрокная решетка
• Индексы Миллера
• Амплитуда структуры
• Атомный форм-фактор
• Брэгговское рассеяние