Навигация:Главная›Для ВУЗов, техникумов и ПУ›Оборудование PHYWE (Германия)›Физика›Физика рентгеновских излучений›Рентгеновское изучение кристаллических структур / метод Лауэ
Рентгеновское изучение кристаллических структур / метод Лауэ
Артикул: P2541605 Цена: предоставляется по запросу |
Принцип Диаграммы Лауэ получают при облучении монокристаллов полихроматическим рентгеновским излучением. Этот метод в основном используется для определения симметрии и ориентации кристаллов. Когда монокристалл LiF облучают полихроматическим рентгеновским излучением, получается характерная дифракционная картина. В эксперименте этот образец фотографируется, а затем оценивается. Задание
Основные термины
← Назад |