Навигация:ГлавнаяДля ВУЗов, техникумов и ПУОборудование PHYWE (Германия)ФизикаФизика рентгеновских излученийКоличественный рентгенофлуоресцентный анализ легированных материалов

Количественный рентгенофлуоресцентный анализ легированных материалов

Количественный рентгенофлуоресцентный анализ легированных материалов

Артикул: P2545005

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

Принцип
Различные легированные материалы подвергаются полихроматическому рентгеновскому излучению. Энергия полученного флуоресцентного излучения анализируется с помощью полупроводникового детектора энергии и многоканального анализатора.

Определяется энергия соответствующих характеристических рентгеновских флуоресцентных линий. Для определения концентрации компонентов сплава сравнивают интенсивность соответствующих сигналов флуоресценции с чистыми элементами.

Задание

  1. Откалибруйте полупроводниковый детектор энергии с помощью характеристического излучения вольфрамовой рентгеновской трубки.
  2. Запишите спектры флуоресценции, полученных на легированных образцах.
  3. Запишите спектры флуоресценции чистых металлов.
  4. Определите значение энергий соответствующих линий флуоресценции.
  5. Рассчитайте уровни концентрации составляющих сплава.


Основные термины

  • тормозное излучение
  • характеристическое рентгеновское излучение
  • энергетические уровни
  • флуоресцентный выход
  • эффект Оже
  • когерентное и некогерентное рассеяние фотонов
  • поглощение рентгеновских лучей
  • края поглощения
  • матричные эффекты
  • полупроводниковые детекторы энергии

Задать вопрос