Навигация:Главная›Для ВУЗов, техникумов и ПУ›Физика›Квантовая физика›ФКЛ-10 Изучение зависимости сопротивления полупроводника от температуры. Определение ширины запрещенной зоны полупроводника.
ФКЛ-10 Изучение зависимости сопротивления полупроводника от температуры. Определение ширины запрещенной зоны полупроводника.
 Артикул: ТП-15 Цена: предоставляется по запросу |
| Учебная установка выполнена аналогично лабораторному модулю ФКЛ-9. В качестве объекта исследования используется полупроводниковый элемент (кремний, германий). Целью работы является изучение механизма электропроводности полупроводников, измерение зависимости сопротивления полупроводника от температуры и определение величины энергии активации. ← Назад |
- Лабораторные стенды
- Учебные комплексы
- Статика
- Ядерная физика
- Учебные установки
- Аналитическое научное оборудование
- Типовой комплект оборудования по курсу "Механика"
- Типовой комплект демонстрационного оборудования по механике ФДМ
- Типовой комплект оборудования для лаборатории «Волновые процессы» ФПВ
- Лабораторные установки по курсу "Молекулярная физика"
- Комплекты лабораторного оборудования «Физика-Электричество и магнетизм»
- Типовой комплект демонстрационного оборудования по колебаниям и волнам ФДК
- Комплект лабораторного и демонстрационного оборудования по оптике РМС
- Типовой комплект оборудования по курсу "Оптика"
- Лабораторные установки по курсу "Ядерная физика"
- Демонстрационный комплекс группового пользования "Физика"
- Медицинская (биологическая) физика
- Квантовая физика
- Электричество и магнетизм
- Универсальный лабораторно-демонстрационный стенд «Физика»
- Другое