Навигация:ГлавнаяДля ВУЗов, техникумов и ПУОборудование PHYWE (Германия)ФизикаФизика рентгеновских излученийРентгеновское изучение гексагональных кристаллических структур / метод Дебая - Шерера

Рентгеновское изучение гексагональных кристаллических структур / метод Дебая - Шерера

Рентгеновское изучение гексагональных кристаллических структур / метод Дебая - Шерера

Артикул: P2541505

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

Принцип

Поликристаллическая циркониевая фольга облучается рентгеновскими лучами. Полученные отражения Дебая-Шеррера фотографируются, а затем оцениваются.

Задание

  1. Сделайте фотографии Дебая-Шеррера образца циркония.
  2. Оцените кольца Дебая-Шеррера и отнесите их к соответствующим плоскостям решетки.
  3. Определите константы решетки материала образца.
  4. Определите число атомов в элементарной ячейке образца.

Основные термины

  • Кристаллические решетки
  • кристаллические системы
  • взаимная решетка
  • индексы Миллера
  • амплитуда структуры
  • атомный форм-фактор
  • брэгговское рассеяние

Задать вопрос